IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法(電力/電源解析,システムオンシリコンを支える設計技術)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
製造後の性能補償技術と適応型パス遅延テスト技術は,微細プロセスを用いる集積回路の歩留まりと信頼性を向上させる有効な技術である.これらの技術において,プロセスばらつき推定技術が重要な役割を担っている.本稿では,ベイズの定理に基づく大域プロセスばらつき推定技術を提案する.提案手法では,広く実施されているIDDQテスト手法によって得られるIDDQ電流シグネチャを用いて,トランジスタのしきい値等のプロセスばらつきを推定する.提案手法は,従来のIDDQテストフレームワークを使用するため,推定のための回路追加や追加の測定が不要である.シミュレーション実験により,提案手法は,しきい値電圧を10mVの精度で推定できることを示す.
- 2012-02-28
著者
-
新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
-
佐藤 高史
東京工業大学統合研究院
-
新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
佐藤 高史
京都大学大学院情報学研究科
-
新谷 道広
京都大学大学院情報学研究科
関連論文
- ゲート内抵抗性オープン欠陥に対する微小遅延故障モデル(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- テスト展開器のオーバヘッド削減のためのテストベクトルの並べ替えについて(VLSI設計とテスト)
- ハフマン符号に基づくテスト実行のためのテスト圧縮について
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- 二つのキャパシタと1本の電源配線で構成した電磁放射低減電源デカップリング回路のQFPパッケージLSIへの適用(電磁環境・EMC)
- D-10-16 統計的タイミング情報に基づく適応型テスト(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-17 適応型テストにおけるクリティカルパスのクラスタリング手法(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- A-3-2 論理セル遅延の電圧・プロセスばらつき感度の検討(A-3.VLSI設計技術,一般セッション)
- C-12-41 抵抗測定法によるトランジスタアレイ回路の測定時間短縮化(C-12.集積回路,一般セッション)
- A-3-14 リーク電流測定用トランジスタアレイ回路の測定(A-3. VLSI設計技術,一般セッション)
- A-1-8 大域ばらつきの近似次数が回路遅延ばらつきに与える影響(A-1.回路とシステム,一般講演)
- 誤り伝播に着目した粗粒度再構成可能アーキテクチャ向け部分的三重化手法(ディペンダブル設計,システム設計及び一般)
- リングオシレータによるしきい値簡易推定の温度依存性の検討(ディペンダブル設計,物理設計及び一般)
- SRAM回路の構造的対称性を考慮した2段階学習型重点的サンプリング(物理設計,システム設計及び一般)
- プロセスばらつきの積極的活用による非繰返し電圧波形の測定 (第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (ばらつき関連技術)
- C-12-6 電源電圧降下の時間的・空間的広がり可視化手法(C-12.集積回路ACD,一般講演)
- A-3-19 セル間接続方向限定性とセル配置粗密性を考慮した配線長分布(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
- A-3-7 電源電圧降下の相関を用いる電源網の定量的評価(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
- 相関係数にもとづく回帰分析の電源改善への適用 (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (実装設計用シミュレーション)
- A-3-23 リングオシレータを用いる瞬時電圧降下測定手法の精度改善(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
- A-3-22 MOSFETのリーク電流ばらつき測定のための回路検討(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
- テスト圧縮・展開手法におけるバッファ付き展開器について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- ハフマン符号を用いたテスト応答圧縮について
- 遅延計算におけるインダクタンスを考慮すべき配線の統計的選別手法
- TA-2-4 インダクタンスに起因する配線遅延変動の統計的予測手法
- 統計的STAの精度検証手法 (DFM)
- 超球の一部を用いた歩留り推定における不良領域の効率的探索手法(製造性考慮設計,システムオンシリコンを支える設計技術)
- 重点的サンプリングにおける平均値移動量の決定手法とそのSRAM歩留り解析への適用
- C-12-30 状態依存性を考慮した論理回路の電源間容量モデルの検討(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-31 状態依存性解析のための電源間容量のテーブルルックアップ計算(C-12.集積回路,一般セッション)
- A-1-27 回路特性ばらつき解析に対する重点的サンプリングの適用検討(A-1.回路とシステム,一般セッション)
- A-3-13 電源遮断回路におけるインバータ列遅延時間ばらつきの計算(A-3. VLSI設計技術,一般セッション)
- 電源遮断回路におけるパス遅延時間ばらつきの計算 (第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (ばらつき関連技術)
- パワーゲーティング技術における製造ばらつきの回路特性への影響
- A-3-21 高精度デバイスばらつき測定のための電源構造の設計(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
- 電源ノイズ考慮統計的タイミング解析を用いたデカップリング容量割当手法(低消費電力設計,システムオンシリコンを支える設計技術)
- 電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
- 電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法
- 電源ノイズによる遅延変動の測定と電源ノイズを再現するフルチップシミュレーション手法
- C-12-42 CMOS論理回路における電源網容量の入力状態依存性についての検討(C-12.集積回路,一般セッション)
- 集積回路における電源品質の解析技術(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
- 集積回路における電源品質の解析技術(チップ・パッケージ・ボードにおけるパワーインテグリティの設計評価,LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術、テスト技術、一般)
- C-12-37 測定系の侵襲性を定量化可能なオンチップ電源電圧変動の直接測定手法(C-12. 集積回路ABC(測定・評価),一般セッション)
- BI-2-5 LSI等価回路モデル評価に向けたオンチップ電源電圧の測定手法(BI-2.EMC設計のためのLSIマクロモデリング,依頼シンポジウム,ソサイエティ企画)
- 45-65nmノードにおける遅延ばらつき特性の環境温度依存性 (第20回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (DFM(3))
- 混合正規分布による重点的サンプリングの高次元ばらつき解析への適用
- 混合正規分布による重点的サンプリングの高次元ばらつき解析への適用
- C-12-36 Si CMOSチップにおける右手・左手系伝送線路の検討(C-12.集積回路ABC,一般講演)
- 基板実装状態を考慮可能な表面実装型受動部品の2ポートモデリング手法 (第21回 回路とシステム軽井沢ワークショップ論文集) -- (電磁界シミュレーション)
- B-4-7 ビアのインダクタンスに着目したプリント配線基板電源網のインピーダンス低減手法の検討(B-4.環境電磁工学,一般講演)
- 統計的タイミング解析を用いたばらつき考慮テストメソドロジ(フィールドテスト・製造ばらつき,VLSI設計とテスト及び一般)
- A-3-16 伝送線路を用いたオンチップ高速信号伝送回路の研究(A-3.VLSI設計技術,一般講演)
- C-12-18 EM法によるMOSデバイス界面状態数の自動推定(デジタル集積回路,C-12.集積回路,一般セッション)
- A-3-10 ヤコビ法を用いた電源回路網解析のGPU実装(A-3.VLSI設計技術,一般セッション)
- プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み (ディペンダブルコンピューティング)
- IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法 (VLSI設計技術)
- ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路の過渡解析(回路解析,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路の過渡解析(回路解析,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討(回路解析,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討(回路解析,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- ブロック反復法による電源回路網解析の高速化(配置配線,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- ブロック反復法による電源回路網解析の高速化(配置配線,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路の過渡解析
- ゼロ分散推定重点的サンプリングを用いたランダムウォークによる線形回路の過渡解析
- プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み
- IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法(電力/電源解析,システムオンシリコンを支える設計技術)
- ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討
- ブロック反復法による電源回路網解析の高速化
- ランダムテレグラフノイズモデル化のためのパラメータ推定法の検討
- ブロック反復法による電源回路網解析の高速化
- チップ試作による最小動作電圧予測手法の評価(ディジタル回路1)
- A-3-1 ランダムウォーク線形回路解析のスレッド並列化における電圧源化排他制御の検討(A-3.VLSI設計技術)
- 空間周波数領域インピーダンス行列を用いたLSIマルチポートモデルの検討(放送,EMC,一般)
- A-4-12 TV最適化を用いた可変レート圧縮センシング(A-4.信号処理,一般セッション)
- パラメータ推定に基づくIDDQ電流しきい値決定のオンラインテストに向けた高速化(ディペンダブル(1),システムオンシリコンを支える設計技術)
- C-12-7 回路構造の異なるラッチの消費エネルギーの比較(C-12.集積回路)
- 5.1 経時劣化概説(第5章:素子特性経時劣化,ディペンダブルVLSIシステム)
- IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法