リングオシレータによるしきい値簡易推定の温度依存性の検討(ディペンダブル設計,物理設計及び一般)
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概要
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LSI製造における歩留まりと信頼性の向上は回路設計において重要な位置を占めている。近年、いくつかの適応的手法が提案されているが、それらの技術には環境要因に対してロバストなチップ特性推定手法が必要である。本稿では、リングオシレータを用いたチップ特性推定手法の温度依存性について検討し、温度変動に対してロバストな閾値推定手法を提案する。65nm CMOSプロセスのトランジスタモデルを用いたシミュレーションにより、リングオシレータの遅延時間の温度依存性は非線型であるが、-20度から105度までの一般的な実用範囲内では線形近似で精度の高い推定が可能であることが分かった。温度依存性を考慮しない場合と比較して 17.9mV推定精度が改善することができた。
- 2010-09-20
著者
-
越智 裕之
京都大学大学院情報学研究科
-
佐藤 高史
東京工業大学統合研究院
-
佐藤 高史
京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
-
上薗 巧
京都大学大学院情報学研究科
-
佐藤 高史
京都大学大学院情報学研究科
-
上薗 巧
京都大学大学院情報学研究科:(独)日本学術振興会
-
越智 裕之
京都大学大学院 情報学研究科 通信情報システム専攻
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