プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み
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概要
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- 2012-02-06
著者
-
新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
-
佐藤 高史
東京工業大学統合研究院
-
新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
佐藤 高史
京都大学大学院情報学研究科
-
新谷 道広
京都大学大学院情報学研究科
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