ハフマン符号に基づくテスト実行のためのテスト圧縮について
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概要
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大規模集積回路のテストデータの増加が原因で生じるテスト実行時間の増加やテスタメモリ不足などの問題を軽減するため,ハフマン符号を用いて被テスト回路内部でテストデータを圧縮・展開する手法が期待されている.しかしながら,これまでの研究はテストデータの圧縮率に関する議論が中心であり,テスト実行時間に関してはほとんど議論が行われていない.本論文では,テスト実行時間を最小化するためには,テストデータの圧縮率に加えて符号化したテストデータの符号語長が重要な要素となることを指摘し,テスト実行時間を考慮したテストデータ圧縮のための新しい符号化法を提案する.提案する符号化法は,テストデータの圧縮率と符号語長を考慮した符号化法であるため,テスト入力の実行時間を最適化することが可能である.計算機実験では提案する符号化法の性質を調べ,提案符号化法が与えられたテスト環境化で最適な圧縮を行うための符号化法であることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-02-14
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
新谷 道広
(株)半導体理工学研究センター
-
田村 秋雄
広島市立大学情報科学部
-
新谷 道広
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
小原 敏敬
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
新谷 道広
京都大学大学院情報学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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