マルチサイクル故障に耐性を持つデータパスのためのバインディング法(高位設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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近年,VLSIの高機能化,高集積化に伴い,放射線衝突によるソフトエラーの発生が懸念されている.特に近年の微細化と高速動作により,そのソフトエラーは1つのシステムに収まらず,複数サイクルに継続して影響する可能性が示されている.本研究では,そのようなソフトエラーの影響をマルチサイクルの過渡故障としてモデル化し,マルチサイクル故障に耐性をもつデータパスを合成するためのバインディング法について議論する.3重化システムを対象に,マルチサイクルエラーの検出および訂正可能なデータパスのための演算器バインディングの条件を明らかにし,誤り訂正を指向した演算器バインディング法を提案する.提案法をいくつかの回路例に適用した結果は,マルチサイクル故障の耐性に応じた適切な演算器バインディングができることを示している.
- 2010-11-22
著者
-
井上 智生
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学情報科学部
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
吉川 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
邊見 勇登
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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