テスト設計選択のためのLSI設計製造コストモデル(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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LSIのテストを容易にするために,多くのテスト設計・テスト容易化設計(DFT)が提案されている.本論文では,LSIの設計製造を通じて得られる利益を最大化するためのテスト設計を,適切に選択するためのコストモデルを提案する.テスト設計は,LSIのチップ面積,テスト実行時間,テストパターン生成時間,故障検出率の4つの項目に影響を与えるため,スキャン設計,組込み自己テスト(BIST)設計,テストデータ圧縮・展開設計の3つのテスト設計についてこの4つの関係をモデル化する.このモデルにより各テスト設計のトレードオフを捉え,設計製造環境に応じた設計製造コストを示すことができようになり,その結果LSI設計フローの早い段階で適切なテスト設計(DFT手法とそのパラメータ)を容易に選択できるようになる.提案モデルを用いることで,いくつかの設計製造環境に応じて適切にテスト設計を選択できることを示す.
- 2011-11-21
著者
-
岩垣 剛
北陸先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
志水 昂
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
岩垣 剛
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
岩垣 剛
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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