解の再利用によるテスト生成のためのハードウェアSATソルバの実装(テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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本論文では,充足可能性問題(SAT)に基づくテスト生成のためのハードウェアソルバについて議論する一般に,論理回路のテスト生成問題には大規模で多数のインスタンスが存在し,それらが互いに類似している.また,限られたハードウェア資源の下で大規模なインスタンスを扱うためには,問題を分割して解くことが重要となる.以上の観測から,(1)類似した複数のインスタンスを効率的に解くための解の再利用機能と(2)大規模インスタンスを扱うための分割されたインスタンスを解く機能をもつハードウェアSATソルバの構築を目指す.これにより,汎用のハードウェアSATソルバと比べてテスト生成の高速化が期待できる.
- 2013-02-06
著者
-
岩垣 剛
北陸先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
岩垣 剛
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
上田 健司
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
向井 俊矢
広島市立大学大学院情報科学研究科
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井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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岩垣 剛
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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