岩垣 剛 | 広島市立大学大学院 情報科学研究科
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概要
関連著者
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井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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岩垣 剛
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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岩垣 剛
北陸先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
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井上 智生
広島市立大学大学院情報科学研究科
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岩垣 剛
広島市立大学大学院情報科学研究科
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志水 昂
広島市立大学大学院情報科学研究科
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上田 健司
広島市立大学大学院情報科学研究科
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面林 康太
広島市立大学大学院情報科学研究科
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中祖 達也
広島市立大学大学院情報科学研究科
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大窪 涼子
広島市立大学大学院情報科学研究科
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亀井 惇平
広島市立大学大学院情報科学研究科
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松木 伸伍
広島市立大学大学院情報科学研究科
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深澤 祐樹
広島市立大学大学院情報科学研究科
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三上 雄大
広島市立大学大学院情報科学研究科
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櫻田 正明
広島市立大学大学院情報科学研究科
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向井 俊矢
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
三上 雄大
広島市立大学大学院 情報科学研究科
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森 拓馬
広島市立大学大学院情報科学研究科
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大元 将一
広島市立大学大学院情報科学研究科
著作論文
- テスト設計選択のためのLSI設計製造コストモデル(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- テスト設計選択のためのLSI設計製造コストモデル(テスト設計1,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- テスト設計選択のためのLSI設計製造コストモデル
- 色差に着目した低電力色補間回路の設計に関する考察(低電力設計,システムオンシリコンを支える設計技術)
- 論理合成ツールを用いた論理最適化におけるRTLフォールスパスの活用(動作レベル設計と配線手法,システムオンシリコンを支える設計技術)
- テスト設計選択のためのLSI設計製造コストモデル
- 高信頼組込み自己テストのための耐故障テスト生成器に関する考察(設計/テスト/検証)
- 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム(システム設計技術(2),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム(システム設計技術(2),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法(システム設計技術(2),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法(システム設計技術(2),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
- 過剰テスト緩和のためのテスト生成モデルと故障の許容性に基づくテストへの応用(安全性及び一般)
- エラートレラントアプリケーションのための論理回路簡単化における必須割当てを利用した許容故障判定法(フィールトテストと許容故障判定, VLSI設計とテスト及び一般)
- 解の再利用によるテスト生成のためのハードウェアSATソルバの実装(テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- エラートレラントアプリケーションのための多重縮退故障を用いた論理簡単化アルゴリズム(ディペンダブル(1),システムオンシリコンを支える設計技術)
- 色差に着目した低電力色補間回路の設計に関する考察
- Dual-FPGAアーキテクチャに基づく相互再構成型耐故障システムの実装(ディペンダビリティとセキュリティ,VLSI設計とテスト及び一般)