Dual-FPGAアーキテクチャに基づく相互再構成型耐故障システムの実装(ディペンダビリティとセキュリティ,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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本研究ではDual-FPGAアーキテクチャに基づいた相互再構成型耐故障システムを提案する.提案システムは故障状況を推定し,2つのFPGAが協調し互いを適切な漸次縮退再構成により自律的に故障から回復するものである.このシステムを構成するモジュールの機能,動作およびモジュール間のインタフェースを設計・実装した.実装例では,数値的に拡散方程式を解く漸次縮退システムを2つのFPGAに実装し,性能や面積を評価した.
- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2014-02-03
著者
-
井上 智生
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
岩垣 剛
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
市原 英行
広島市立大学大学院 情報科学研究科
-
森 拓馬
広島市立大学大学院情報科学研究科
-
大元 将一
広島市立大学大学院情報科学研究科
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