不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成法(フォールトトレランス)
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概要
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本論文では,遅延故障に対してテスト生成が容易な順序回路の構造として,不連続再収斂構造を定義し,不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成問題が,その時間展開モデルの遅延故障に対するテスト生成問題に帰着できることを示す.これに基づき,不連続再収斂順序回路の遅延故障に対するテスト生成法を提案する.提案手法は,2パターンテストでテストできる遅延故障のモデル(パス遅延故障,セグメント遅延故障,トランジション故障など)に対して適用できる.また,本論文では,一般の順序回路に対して提案手法を適用するために,不連続再収斂構造に基づく部分拡張スキヤン設計を行う.最後に提案手法をベンチマーク回路に適用し,本手法がハードウェアオーバヘッド,テスト生成時間,故障検出効率の点で有効であることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2003-12-01
著者
-
岩垣 剛
北陸先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
大竹 哲史
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科:科学技術振興機構 Crest
-
岩垣 剛
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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