順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法 (テストと設計検証論文特集)
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概要
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本論文では, IDDQテストを仮定した静的なテスト系列圧縮法を提案する. テスト系列を圧縮することによって, テスト時間やテスタのメモリが削減でき, 結果としてテストコストを低減できる. 特にIDDQテストでは, 静的な電源電流(IDDQ)を観測するのに長い時間が必要であるため, テスト系列の圧縮が重要である. 提案手法では, 部分系列の削除や, より短い系列での置換などを行う. その際, 回路の状態を考慮し, 圧縮前のテスト系列による故障検出率が保存されるようにする。最後にISCAS'89ベンチマーク回路に対する実験を行い, 提案手法の有効性を確認する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-07-25
著者
-
樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
樹下 行三
大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻
-
高松 雄三
愛媛大学工学部
-
サルージャ ケーワルk.
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison
-
Saluja Kewal
Univ. Wisconsin‐madison Usa
-
Saluja Kewal
ウィスコンシン大学
-
Saluja Kewal
ウィスコンシン大学マディソン校
-
Saluja Kewal
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
-
Saluja Kewal
ウイスコンシン大学
-
樹下 行三
大阪学院大 情報
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