サルージャ ケーワルk. | Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison
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概要
関連著者
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サルージャ ケーワルk.
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison
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Saluja Kewal
ウィスコンシン大学
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Saluja Kewal
ウィスコンシン大学マディソン校
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Saluja Kewal
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
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Saluja Kewal
ウイスコンシン大学
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高松 雄三
愛媛大学
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樋上 喜信
愛媛大学大学院
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高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
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Saluja Kewal
Univ. Wisconsin‐madison Usa
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Saluja Kewal
Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison
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小林 真也
愛媛大学 工学部
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小林 真也
愛媛大学大学院理工学研究科
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高松 雄三
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
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高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
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樋上 喜信
愛媛大学 工学部
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高松 雄三
愛媛大学工学部
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Saluja Kewal
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison
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樹下 行三
大阪学院大 情報
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Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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樋上 喜信
愛媛大学
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小林 真也
愛媛大学工学部
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樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
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SALUJA KEWAL
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison
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高橋 寛
愛媛大学工学部情報工学科
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藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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増澤 利光
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
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樹下 行三
大阪大学 大学院工学研究科
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和田 弘樹
株式会社日立製作所中央研究所システムlsi研究部
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和田 弘樹
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
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樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
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高橋 寛
愛媛大学理工学研究科電子情報工学専攻
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Saluja KewalK
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin - Madison
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高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
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サルージャ ケーワルK.
ウィスコンシン大学
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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高橋 寛
愛媛大学大学院
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小林 真也
愛媛大学
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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樹下 行三
大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻
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高橋 寛
愛媛大学 工学部情報工学科
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Keller Keith
ウィスコンシン大学マディソン校
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BAIK Dong
Univ. of Wisconsin-Madison, Dept. of Electrical and Computer Engineering
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Baik Dong
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
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高橋 寛
愛媛大学
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梶原 誠司
九州工業大学
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高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
著作論文
- ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
- 組合せ回路および順序回路に対する検出・非検出情報に基づく診断用テスト圧縮法(テスト容易化設計,システムLSI設計とその技術)
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- 順序回路のクロストークによる遅延故障に対する目標故障の一判別法
- 完全故障検出効率を保証するデータパスの非スキャンテスト容易化設計法 (テストと設計検証論文特集)
- 完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルデータパスの非スキャンテスト容易化設計法
- 順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法 (テストと設計検証論文特集)
- 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
- 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
- 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
- ランダムアクセススキャン : テスト時消費電力,テストデータ量,テスト時開削減法(VLSI設計とテスト)
- 完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルデータパスの非スキャンテスト容易化設計法