樋上 喜信 | 愛媛大学工学部情報工学科
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概要
関連著者
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樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
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樋上 喜信
愛媛大学大学院
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高松 雄三
愛媛大学工学部
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高松 雄三
愛媛大学
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高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
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高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
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高橋 寛
愛媛大学工学部情報工学科
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Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
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山崎 浩二
明治大学
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小林 真也
愛媛大学工学部
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小林 真也
愛媛大学 工学部
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小林 真也
愛媛大学大学院理工学研究科
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山本 幸大
愛媛大学大学院理工学研究科
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山本 幸大
愛媛大 大学院理工学研究科
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西山 隆広
愛媛大学大学院理工学研究科
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梶原 誠司
九州工業大学:jst Crest
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梶原 誠司
九州工業大学
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梶原 誠司
九州工業大学情報工学部電子情報工学科
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佐藤 雄一
愛媛大学大学院理工学研究科
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サルージャ ケーワルk.
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison
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Saluja Kewal
ウィスコンシン大学
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Saluja Kewal
ウィスコンシン大学マディソン校
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Saluja Kewal
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
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Saluja Kewal
ウイスコンシン大学
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高橋 直子
愛媛大学大学院理工学研究科
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樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
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SALUJA KEWAL
Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison
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柏木 紘一
愛媛大学工学部情報工学科
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市原 英行
広島市立大学大学院情報科学研究科
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武智 清
愛媛大学大学院理工学研究科情報工学専攻
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樋上 喜信
愛媛大学 工学部
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Saluja Kewal
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison
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樹下 行三
大阪学院大 情報
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Saluja Kewal
Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison
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植村 雄一郎
(現)京都大学大学院情報学研究科社会情報学専攻
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西岡 豊
富士通テン
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本山 謙太郎
愛媛大学大学院理工学研究科情報工学専攻
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植村 雄一郎
(現)京都大学大学院情報学研究科社会情報学専攻:愛媛大学工学部情報工学科
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西岡 豊
富士通テン:愛媛大学工学部情報工学科
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市原 英行
広島市立大学情報科学部
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門山 周平
愛媛大学大学院
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山崎 亜佳根
愛媛大学大学院理工学研究科
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精山 哲也
愛媛大学大学院理工学研究科
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栗山 和樹
愛媛大学大学院理工学研究科
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樹下 行三
大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻
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樹下 行三
大阪学院大学情報学部
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Saluja Kewal
Univ. Wisconsin‐madison Usa
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Kajihara S
Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn
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綾野 秀和
愛媛大学大学院理工学研究科
著作論文
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- K-024 双方向性通信可能な個人向け情報配信システムの構築(K分野:ヒューマンコミュニケーション&インタラクション)
- 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について
- グラフィカル入力と文字入力を併用した待ち行列網モデルの記述表現法
- 隣接信号線を考慮したオープン故障の一モデルとその故障診断(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づく複数故障モデルに対する故障診断法(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 検出/非検出情報に基づくオープン故障診断への誤り経路追跡法の適用(故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合によるブリッジ故障診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
- 順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 検出/非検出情報に基づくオープン故障の一診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- テストの検出/非検出情報に基づくオープン故障の診断法(VLSI設計とテスト)
- 論理回路に対するテスト実行時間削減法
- BIST環境における不確かなテスト集合による単一縮退故障の一診断法(診断, LSIのテスト・診断技術論文)
- 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かなテスト集合による多重縮退故障の診断(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- 不確かな診断テスト集合による単一/多重縮退故障の診断法(VLSI設計とテスト)
- 論理回路に対するテストコスト削減法 : テストデータ量及びテスト実行時間の削減
- 順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法 (テストと設計検証論文特集)
- リセット機能を持つ順序回路に対するテスト系列圧縮法
- 順序回路に対する消費電力削減のためのテストベクトル変更法(システムLSIの設計技術と設計自動化)
- 2重縮退故障に対するテスト生成について
- 単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について
- 単一冗長故障を含む2重縮退故障に対するテスト生成について