Saluja Kewal | Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison

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概要

• 同名の論文著者
• Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madisonの論文著者

関連著者

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison

• SALUJA KEWAL

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison

• Saluja Kewal

  Univ. Wisconsin‐madison Usa

• Takahasi Hiroshi

  The Authors Are With Application Specific Products Worldwide Development Dsp Development Japan Tsuku

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学マディソン校

• Takamatsu Y

  Graduate School Of Science And Engineering Ehime University

• Saluja Kewal

  ウイスコンシン大学

• Takahashi H

  Graduate School Of Science And Engineering Ehime University

• サルージャ ケーワルk.

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学

• Saluja Kewal

  Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering

• WEN Xiaoqing

  Kyushu Institute of Technology

• WEN Xiaoqing

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• Wen Xiaoqing

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• Kinoshita Kozo

  Faculty Of Informatics Osaka Gakuin University

• Kinoshita Kozo

  Faculty Of Engineering Osaka University

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Engineering Osaka University

• Kajihara Seiji

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• Higami Y

  Graduate School Of Science And Engineering Ehime University

• Xiaoqing Wen

  Department Of Information Engineering Mining College Akita University

• 小林 真也

  愛媛大学 工学部

• Takahashi Hiroshi

  Graduate School of Environmental Studies, Tohoku University

• 小林 真也

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高松 雄三

  愛媛大学

• HIGAMI Yoshinobu

  Graduate School of Science and Engineering, Ehime University

• KOBAYASHI Shin-ya

  Graduate School of Science and Engineering, Ehime University

• TAKAMATSU Yuzo

  Graduate School of Science and Engineering, Ehime University

• WANG Laung-Terng

  SynTest

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• Takahashi Hiroshi

  Department Of Cardiology Nihon University Surugadai Hospital

• Kobayashi S

  Graduate School Of Science And Engineering Ehime University

• Kajihara S

  Kyushu Inst. Technol. Iizuka‐shi Jpn

• Takamatsu Yuzo

  Department Of Electrical And Electronic Engineering And Computer Science Graduate School Of Science

• Kadoyama Shuhei

  Graduate School Of Science And Engineering Ehime University

• Takahashi Hiroshi

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

• Takahashi Hiroshi

  Department Of Applied Aquabiology National Fisheries University

• Takahashi Hiroshi

  Graduate School Of Environmental Studies Tohoku University

• Takamatsu Yuzo

  Department of Computer Science, Ehime University

• 小林 真也

  愛媛大学工学部

• 樋上 喜信

  愛媛大学工学部情報工学科

• 高橋 寛

  愛媛大学工学部情報工学科

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部情報工学科

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• YAMATO Yuta

  Kyushu Institute of Technology

• 増澤 利光

  奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 和田 弘樹

  株式会社日立製作所中央研究所システムlsi研究部

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化システムセンター

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科:九州工業大学マイクロ化総合技術センタ

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部

• 和田 弘樹

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• Miyase K

  Kyushu Institute Of Technology

• Yamashita Yoshiyuki

  Densotechno Co.

• Miyase Kohei

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• 玉本 英夫

  秋田大学工学資源学部情報工学科

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院理工学研究科

• Saluja KewalK

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin - Madison

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院

• Tamamoto H

  The Department Of Information Engineering Akita University

• 玉本 英夫

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 温 暁青

  シンテスト・テクノロジース

• 温 暁青

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 樹下 行三

  大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻

• HIGAMI Yoshinobu

  Department of Computer Science, Ehime University

• MIYASE Kohei

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• YAMATO Yuta

  Faculty of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology

• SUZUKI Tatsuya

  Faculty of Information Sciences, Hiroshima City University

• Yamato Yuta

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology

• MIYASE Kohei

  Innovation Plaza Fukuoka, Japan Science and Technology Agency

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• TAMAMOTO Hideo

  Department of Information Engineering, Akita University

• PHADOONGSIDHI Marong

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsis

• Phadoongsidhi Marong

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsis

• Suzuki Tatsuya

  Faculty Of Computer Science And Systems Engineering Kyushu Institute Of Technology:(present Office)d

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院 理工学研究科

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著作論文

• ゲートレベルを用いたトランジスタショートに対するテスト生成法(セッション3 : テスト生成, VLSI設計とテスト及び一般)
• 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
• 組合せ回路および順序回路に対する診断用テスト圧縮法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト技術)
• トランジスタ短絡故障モデルにおける等価故障解析について
• Addressing Defect Coverage through Generating Test Vectors for Transistor Defects
• Maximizing Stuck-Open Fault Coverage Using Stuck-at Test Vectors
• Fault Simulation and Test Generation for Transistor Shorts Using Stuck-at Test Tools
• 完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルデータパスの非スキャンテスト容易化設計法
• A Novel ATPG Method for Capture Power Reduction during Scan Testing(Dependable Computing)
• A Per-Test Fault Diagnosis Method Based on the X-Fault Model(Dependable Computing)
• A New Method for Low-Capture-Power Test Generation for Scan Testing(Dependable Computing)
• On Design for I_-Based Diagnosability of CMOS Circuits Using Multiple Power Supplies(Computer Components)
• An Alternative Test Generation for Path Delay Faults by Using N_i-Detection Test Sets(Test)(Dependable Computing)
• An Alternative Test Generation for Path Delay Faults by Using N_i-Detection Test Sets
• Diagnosing Crosstalk Faults in Sequential Circuits Using Fault Simulation(Special Issue on Test and Verification of VLSI)
• 完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルデータパスの非スキャンテスト容易化設計法

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