温 暁青 | シンテスト・テクノロジース

スポンサーリンク

概要

• 温 暁青の詳細を見る
• 同名の論文著者
• シンテスト・テクノロジースの論文著者

関連著者

• 温 暁青

  シンテスト・テクノロジース

• 玉本 英夫

  秋田大学工学資源学部情報工学科

• 玉本 英夫

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 温 暁青

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• 横山 洋之

  秋田大学工学資源学部情報工学科

• 横山 洋之

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 樹下 行三

  大阪大学工学部応用物理学科

• 樹下 行三

  大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻

• 樹下 行三

  大阪大学工学部

• SALUJA KEWAL

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison

• 村上 央

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 温 暁青

  秋田大学礦山学部情報工学科

• 玉本 英夫

  秋田大学礦山学部情報工学科

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison

• Saluja Kewal

  Univ. Wisconsin‐madison Usa

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学マディソン校

• Saluja Kewal

  ウイスコンシン大学

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison

もっと見る 閉じる

著作論文

• 部分2重化とI_テストによる論理回路のランダムテスト容易化手法
• トランジスタ短絡故障モデルにおける等価故障解析について
• I_計測による故障検出と故障診断
• トランジスタ短絡故障のI_テストベクトルの選択について
• プリッジ故障のIDDQテスト用ベクトルの選択について
• 部分二重化による論理回路のランダムテスト容易化
• 全可観測な環境での綜合的なテスト容易化手法
• 全可観測な環境でのNAND論理回路のスタックオ-プン故障の検査手法について

スポンサーリンク