玉本 英夫 | 秋田大学鉱山学部情報工学科

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概要

• 同名の論文著者
• 秋田大学鉱山学部情報工学科の論文著者

関連著者

• 玉本 英夫

  秋田大学工学資源学部情報工学科

• 玉本 英夫

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 温 暁青

  シンテスト・テクノロジース

• 横山 洋之

  秋田大学工学資源学部情報工学科

• 横山 洋之

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 温 暁青

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• 樹下 行三

  大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻

• SALUJA KEWAL

  Department of Electrical and Computer Engineering, University of Wisconsin-Madison

• 成田 裕一

  秋田大学鉱山学部

• 成田 裕一

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 高橋 淳

  福島県ハイテクプラザ

• 村上 央

  秋田大学鉱山学部情報工学科

• 樹下 行三

  大阪大学工学部応用物理学科

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison

• Saluja Kewal

  Univ. Wisconsin‐madison Usa

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学マディソン校

• Saluja Kewal

  ウイスコンシン大学

• 樹下 行三

  大阪大学工学部

• 湯川 崇

  秋田大学鉱山学研究科

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison

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著作論文

• CMOS論理回路のランダムパターンによる組込み電流テスト
• 部分2重化とI_テストによる論理回路のランダムテスト容易化手法
• トランジスタ短絡故障モデルにおける等価故障解析について
• I_計測による故障検出と故障診断
• トランジスタ短絡故障のI_テストベクトルの選択について
• プリッジ故障のIDDQテスト用ベクトルの選択について
• 部分二重化による論理回路のランダムテスト容易化
• 両眼立体視による位置計測の誤差
• 遺伝的アルゴリズムを用いた組込み型多重重み付けランダムテストの最適化手法
• 分散システムにおけるソフトウェアフォールトトレランス
• メモリにおけるテスト容易化設計法 (VLSIのテスト容易化設計)

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