横山 洋之 | 秋田大学鉱山学部情報工学科
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概要
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著作論文
- CMOS論理回路のランダムパターンによる組込み電流テスト
- 部分2重化とI_テストによる論理回路のランダムテスト容易化手法
- プリッジ故障のIDDQテスト用ベクトルの選択について
- 部分二重化による論理回路のランダムテスト容易化
- 遺伝的アルゴリズムを用いた組込み型多重重み付けランダムテストの最適化手法