全可観測な環境での綜合的なテスト容易化手法
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概要
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本論文では,k-R回路という新しいテスト容易化設計を提案した.k-R回路内の縮退故障検のテストは全可観測な環境,つまりすべてのゲートの出力線が観測できる環境において,k+1のテストベクトルで十分であることを示した.実回路のkの値は普通2か3と小さい.本論文ではまた,任意の組合せ回路をk-R回路に変換するための効率的な手法を提案した.k-R回路の概念は電流テスト,電子ビームテスト及びCrossCheck手法によるテストの効率化に役立つと思われる.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-03-10
著者
-
玉本 英夫
秋田大学工学資源学部情報工学科
-
樹下 行三
大阪大学工学部応用物理学科
-
温 暁青
シンテスト・テクノロジース
-
温 暁青
秋田大学礦山学部情報工学科
-
玉本 英夫
秋田大学礦山学部情報工学科
-
樹下 行三
大阪学院大 情報
-
樹下 行三
大阪大学工学部
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