テストポイントとフェーズシフタを用いたBISTによるクロストーク故障検査
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概要
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近年VLSIの微細化と高速化が進み,シグナルインテグリティと呼ばれる信号の完全性を保証する問題が重要となってきている.本論文ではシグナルインテグリティを侵す原因として扱われているクロストークに注目し,それにより引き起こされるクロストーク故障に対して検査手法を提案する.LFSRのM系列を利用したクロストーク故障を検出可能な組込み自己検査手法(Built-InSelf-Test:BIST)が提案されたが,LFSRの出力をそのままランダムテストパターンとして用いたため,クロストークパルスの励起回数が不十分となり未検出となる故障が存在した.そこで本論文では新たな検査用回路を用いて,クロストークパルスの励起回数を増やし,前手法では未検出となる故障を検出可能とする.新たな検査用回路ではテストポイントと,M系列から任意の遅れをもった系列を出力可能なフェーズシフタと呼ばれる回路を利用する.また本論文ではシミュレーション方法を変更し,従来は実行が不可能であった大規模な回路に対してもシミュレーションを可能としている.そして,いくつかのベンチマーク回路に対して検出率,面積オーバヘッドなどの評価を行い,この手法がクロストーク故障に対して有効であることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2002-05-01
著者
-
清水 和也
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
白井 孝典
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
板崎 徳禎
大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻
-
樹下 行三
大阪学院大学情報学部
-
樹下 行三
大阪学院大 情報
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