ゲート伝搬遅延を考慮したクロストーク故障の検査入力生成手法

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概要

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VLSIの高速化,高密度化に伴って,クロストーク故障と呼ばれる新しい論理故障が注目されている.本論文ではこのクロストーク故障に対する検査入力生成手法を提案する.クロストーク故障の検出には,クロストークの励起と伝搬のために,連続する二つのテストベクトルが必要であり,その検査入力生成は縮退故障の検査入力生成より困難である.提案する手法では,二つのテストベクトルに対応する論理値を一つにまとめた信号値を用いてアルゴリズムを単純化し,プログラム実装の容易化を図っている.更に,ゲートの伝搬遅延を考慮し,実際の回路のクロストーク故障に即した検査入力生成を目指した.提案したアルゴリズムC++言語によってプログラム化し,いくつかの回路を用いて実験を行った.小規模回路の例では最高98%の故障に対して検査入力生成に成功するか,又は冗長であると判定され,より大規模な回路でも70%程度以上の結果が得られたものがいくつかあった.
社団法人電子情報通信学会の論文
1994-05-25

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