ディジタルVLSIにおけるクロストーク故障に対する組込み自己検査手法
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概要
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近年VLSIの高集積化, 高速化に伴い, 従来の故障モデルの範疇では分類できない新しい故障が問題となってきている.本論文ではそのような新しい故障のうち, クロストーク故障と呼ばれる故障を対象としている.この故障の検出にはクロストークの励起と伝搬のために, 連続する二つのテストベクトルが必要なのでその生成が困難である.なおかつ順序回路においては, 回路中のゲート遅延時間, FFのセットアップ時間, といったタイミングの問題まで考慮する必要がある.そのため従来提案されているテストベクトル生成手法では高検出率を実現することが困難であった.これらの問題を解決するために, 本論文ではクロストーク故障を検出可能な組込み自己検査手法(Bulit-In Self-Test:BIST)を新たに提案する.この手法は比較的少ない面積オーバヘッドで実現され, 更にそのシミュレーション時は検査時と異なった回路構成をとることで, シミュレーションの時間を短縮した.これにより大規模回路の検査を可能としている.いくつかのベンチマーク回路に対して検出率などの評価を行い, この手法がクロストーク故障に対して有効であることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2001-03-01
著者
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