パス遅延故障のテストと冗長性判定について

概要

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論理回路の高速化とともに,回路のタイミング動作を保証するテストが要求されるようになっている.そこで,従来のテストで用いられてきた縮退故障モデルとは別に,回路内のあるパス上に累積された遅延が決められた遅延時間を越えることにより生ずるパス遅延故障モデルが提案されている.パス遅延故障には,回路の外部入力から外部出力までの各パスについての立ち上がりと立ち下がりの2つの故障が考えられ,故障数は非常に多い.また,遅延が生じても誤動作しないパス,すなわち冗長なパスが非常に多く存在することも報告されており,テストパターン生成においてそれらを故障リストから取り除くことは重要な課題の一つである.更に,冗長でないパス遅延故障には,検出できるか否かが他のパスの遅延に依存するものもあり,そのテストパターン生成手法は未だに確立されていないのが現状である.本稿では,パス遅延故障の冗長性判定の一手法を提案し,冗長でないパス遅延故障のうち静的に活性化できないパスの遅延故障の検出条件を考察する.
社団法人電子情報通信学会の論文
1995-03-27