多重故障に対するテスト生成の効率的手法について
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概要
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組合せ回路の多重縮退故障に対するテスト生成手法の一つとして,ベクトルペア解析を用いた手法が提案されている.本論文では,ベクトルペア解析を用いたテスト生成を効率的に行うための3つの手法を紹介する.これらは,外部入力に近い信号線の故障を早い段階で検出しておけば,後の解析でより多くの故障を検出できるという考えに基づいている.ベンチマーク回路を用いた実験では,本手法により,テスト生成を高速化できることを示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-10-27
著者
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