並列ベクトルペア解析を用いた多重縮退故障のテスト生成について
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概要
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本稿では,組合せ回路の多重縮退故障を検出するテスト集合を,並列ベクトルペア解析を用いて生成する手法を提案する.並列ベクトルペア解析を用いると,直列ベクトルペア解析よりも高い多重故障検出率を得ることができ,得られるテストベクトル数も少ない.本手法では,まず対象回路の冗長信号線を除去し,次に単一縮退故障を検出するテスト集合を生成する.並列ベクトルペア解析に用いるベクトルペアは,このテスト集合より作る.本手法をベンチマーク回路に対して適用したところ,27種類中25種類の回路に対し,すべての多重縮退故障を検出するテスト集合を生成できた.また,並列ベクトルペア解析を圧縮されたテスト集合からのベクトルペアが本テスト生成に有効であることも示した.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-10-29
著者
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