含意操作に基づいた論理回路の簡単化手法について
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
多段論理回路の簡単化手法として,回路内の信号値の含意関係に基づいて冗長回路の付加と除去を繰り返し,回路を最小化する手法がある.本論文では,含意関係を用いた回路の付加と除去の操作をテスト生成アルゴリズムのSOCRATESに用いられる静的学習の中に取り入れて回路を簡単化する手法を提案する.本手法では,含意操作の過程により回路内に存在する分岐再収れんを簡単化する場合と異なる内部関数を表現する際に共有可能な論理ゲートを求めて簡単化する場合に分けて取り扱う.また,本手法をISCAS'85およびISCAS'89のベンチマーク回路に適用した結果についても報告する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1994-03-10
著者
関連論文
- 順序回路のためのIDDQテスト生成手法について
- IDDQテストのための順序回路のブリッジ故障に対するテスト生成
- テスト系列短縮のための部分的並列なスキャンチェーンの構成法
- 状態遷移を用いた短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト
- トランジスタ短絡故障モデルにおける等価故障解析について
- I_計測による故障検出と故障診断
- トランジスタ短絡故障のI_テストベクトルの選択について
- 全可観測な環境での綜合的なテスト容易化手法
- テストポイントとフェーズシフタを用いたBISTによるクロストーク故障検査
- ディジタルVLSIにおけるクロストーク故障に対する組込み自己検査手法
- 多段リンクネットワークにおけるエンドツーエンドARQ方式のスループット解析 : 一般化 Go-Back-N の場合
- 検出不能故障のクラス化による組合せ回路の冗長除去について
- 中間故障電圧値を扱う故障シミュレーションの高速化について
- 論理回路における遅延テスト不要パスの高速導出法 (テストと設計検証論文特集)
- パス遅延故障のテストのためのロバスト依存パスの識別法
- イメージセンサに対する統計型エラーモデルとそのテスト手法について(半導体テスト,ディペンダブルコンピューティング論文)
- CMOS回路における最大変化ゲート数の評価手法について
- CMOS論理回路の信号値遷移確率の評価法について
- CMOS論理回路の信号値遷移確率の評価法について
- CMOS回路における最大変化ゲート数の評価手法について
- CMOS回路における最大変化ゲート数の評価手法について
- 順序回路のブリッジ故障に対するIDDQテストのための静的なテスト系列圧縮法 (テストと設計検証論文特集)
- 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
- 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
- 順序回路に対するIDDQテスト時間短縮について
- ゲートレベル組合せ回路の単一論理設計誤りに対する診断手法
- ベクトルペア解析を用いた論理設計誤りの診断について
- ゲート伝搬遅延を考慮したクロストーク故障の検査入力生成手法
- 14th IEEE VLSI Test Symposium報告
- マルコフビット誤りチャネルにおける ARQ 方式のスループット特性
- 反復伝送を用いたハイブリッド Go-Back-N ARQ 方式のトラヒック解析
- リセット機能を持つ順序回路に対するテスト系列圧縮法
- 高信頼度マルチキャストのための分散型ARQプロトコルの性能評価
- 共有バッファ型マルチキャストATMスイッチにおける一般化2レベル優先制御
- ファンアウト依存型優先制御を用いた共有バッファ型マルチキャストATMスイッチ
- テスト数制限下でのテスト入力集合の選択手法について (テストと設計検証論文特集)
- 到達不能状態に基づく順序回路の冗長信号線の同時除去法
- ファンアウト依存型優先制御を用いた共有バッファ型マルチキャストATMスイッチ
- RSE符号を用いたハイブリッドARQ方式のマルチキャスト通信への応用
- 到達不能状態に基づく順序回路の冗長除去手法
- テスト生成の静的学習における間接含意の習得法について
- 多重故障に対するテスト生成の効率的手法について
- 並列ベクトルペア解析を用いた多重縮退故障のテスト生成について
- 並列ベクトルペア解析を用いた多重縮退故障のテスト生成について
- 部分回路除去に対する含意関係の不変性について
- 到達不能状態を用いた順序回路の冗長除去
- リタイミングと冗長除去を用いた順序回路の簡単化
- 組合せ回路の冗長除去における含意関係の不変性について
- リタイミングと冗長除去を用いた順序回路の簡単化
- 組合せ回路の冗長除去における含意関係の不変性について
- 非冗長組合せ回路と極小テスト集合の同時生成について
- パス遅延故障のテストと冗長性判定について
- 多重故障に対するテスト生成の効率的手法について
- 含意操作に基づいた論理回路の簡単化手法について
- 短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト
- 組込み電流テストのためのテスト回路とテスト生成手法
- D-10-3 隣接線を考慮したパターン併合によるオープン故障用テストパターン生成(D-10.ディペンダブルコンピューテイング,一般セッション)