短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト
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概要
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スキャン設計の順序回路に対するテスト系列を短くするために,短縮スキャンシフト法を提案する.短縮スキャンシフトでは,スキャンチェーン内の一部のフリップフロップ(FF)のみを制御・観測し,スキャンシフトの際の入力ベクトルを少なくする.組合せ部分のテストベクトルを生成した後に,値の設定の必要のないFFや故障の影響が伝搬しないFFを見つけることによって,スキャンシフトの際に,一部のFFを制御・観測するだけで故障を検出することができる.短縮スキャンシフトでは,スキャンチェーン内のFFの位置やテスト系列を構成する際のテストベクトルの順序が大変重要である.本論文ではそれらについて効果的な決定法を提案し,最後にベンチマーク回路に対して実験した結果を示す.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1993-12-16
著者
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