検出不能故障のクラス化による組合せ回路の冗長除去について
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
- 電子情報通信学会の論文
- 1992-02-25
著者
関連論文
- 状態遷移を用いた短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト
- 検出不能故障のクラス化による組合せ回路の冗長除去について
- 多重故障に対するテスト生成の効率的手法について
- 並列ベクトルペア解析を用いた多重縮退故障のテスト生成について
- 並列ベクトルペア解析を用いた多重縮退故障のテスト生成について
- パス遅延故障のテストと冗長性判定について
- 多重故障に対するテスト生成の効率的手法について
- 含意操作に基づいた論理回路の簡単化手法について
- 短縮スキャンシフトによる順序回路のテスト