板崎 徳禎 | 大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

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関連著者

• 板崎 徳禎

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 樹下 行三

  大阪学院大学情報学部

• 清水 和也

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 樹下 行三

  大阪大学大学院工学研究科応用物理専攻

• 樹下 行三

  大阪学院大 情報

• 井戸本 康孝

  大阪大学大学院 工学研究科 応用物理学専攻

• 井戸本 康孝

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 樹下 行三

  大阪大学工学部応用物理学科

• 白井 孝典

  大阪大学大学院工学研究科応用物理学専攻

• 樹下 行三

  大阪大学工学部

• 板崎 徳禎

  大阪大学工学部応用物理学科

• 内藤 久生

  富士通株式会社

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著作論文

• テストポイントとフェーズシフタを用いたBISTによるクロストーク故障検査
• ディジタルVLSIにおけるクロストーク故障に対する組込み自己検査手法
• 同期式順序回路のクロストーク故障に対する故障シミュレーション
• 同期式順序回路のクロストーク故障に対する故障シミュレーション
• ゲート伝搬遅延を考慮したクロストーク故障の検査入力生成手法
• 活性化経路を利用した検査入力生成の効率化手法--PATHアルゴリズム
• トライステ-ト素子を含む回路のテスト生成手法について
• 組合せ回路のスタックオ-プン故障に対するテストパタ-ン生成について
• 可観測な環境を前提としたテストパタ-ン生成

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