IDDQテストを対象としたテスト系列の圧縮法 (テストと設計検証論文特集)
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概要
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IDDQテストは, CMOS回路のショート故障に対し有効なテスト手法である. IDDQテストでは, 静的電流を測定するため, 論理テストに比べて, テスト時間が非常に長くなる. 本論文では順序回路の内部ショートを対象に, 信号値の再割当てを行い, テスト系列を圧縮する方法を提案する。実験結果より, 重み付き乱数ベクトルと提案手法によって, IDDQテストにおいてコンパクトなテストベクトルを高速に生成できることを示す。
- 1999-07-25
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