シフトレジスタ準等価な回路を用いたセキュアでテスト容易なスキャン設計について(セキュリティ,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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セキュリティとテスタビリティは相反する性質であるが,それらを両立させることは重要である。セキュア(安全)でテスタブル(テスト容易)な回路設計が望まれている。筆者らは先に,シフトレジスタ等価回路を利用したセキュアでかつテスト容易なスキャン設計法を提案し,そのセキュリティレベルを明らかにした.本稿では,シフトレジスタ等価回路を含むより広いクラスとして,SR準等価回路を導入し,シフトレジスタ等価回路を用いた場合と同程度にセキュアでテスト容易なスキャン設計が出来ることを示す。さらにセキュリティレベルを推定するために,数種類の線形回路構造のクラスに対して,SR準等価回路の個数を明らかにする。
- 2011-11-21
著者
-
玉本 英夫
秋田大学工学資源学部情報工学科
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
藤原 克哉
秋田大学工学資源学部情報工学科
-
藤原 克哉
秋田大学大学院工学資源学研究科情報工学専攻
-
玉本 英夫
秋田大学大学院工学資源学研究科
-
藤原 秀雄
大阪学院大学情報学部
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