完全故障検出効率を保証するレジスタ転送レベルデータパスの非スキャンテスト容易化設計法

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概要

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• 本稿では, レジスタ転送レベルデータパスを対象としたテスト容易化設計法と対応するテストプラン生成法を提案する. テスト容易化設計法はハードウェアオーバーヘッドを考慮した発見的手法で, O (n^2) の時間計算量を持つ. テストプラン生成法はテスト容易化後のデータパスに対して完全な故障検出効率を保証するテストプランを生成し, O (n^2) の時間計算量を持つ.

• 社団法人電子情報通信学会の論文
• 1997-10-29

著者

• 藤原 秀雄

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• 増澤 利光

  奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科

• 和田 弘樹

  株式会社日立製作所中央研究所システムlsi研究部

• 和田 弘樹

  奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin-madison

• サルージャ ケーワルk.

  Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学

• Saluja Kewal

  ウィスコンシン大学マディソン校

• Saluja Kewal

  Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering

• Saluja Kewal

  ウイスコンシン大学

• Saluja Kewal

  Department Of Electrical & Computer Engineering Uw-madison

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