不確かなテスト集合の検出/非検出情報に基づくブリッジ故障の診断法(BIST と故障診断, VLSI 設計とテスト及び一般)
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概要
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近年, BIST環境でのテスト技術が進歩しており, それに伴いBIST環境のテストで得られた情報を基に, 故障診断を行う手法の開発が望まれている.BIST環境においては, 印加したテストを検出テストと非検出テストに分類することが困難であり, 検出テストと非検出テストが混在したテスト集合が与えられる場合がある.本稿では, 検出テストと非検出テストが完全に分類されない, 不確かなテスト集合とよばれるテスト集合を用いたブリッジ故障の診断法を提案する.さらに誤りが観測された外部出力線の情報を用いず, 検出/非検出情報のみを用いて診断を行う.対象とする故障はブリッジ故障であり, ANDブリッジ、ORブリッジ, ドライブ故障を対象とする.提案法では, 縮退故障シミュレーション結果を元に故障候補を求める.その際, テストのグループ化を行い, グループごとにシミュレーションを行い, 故障候補を求める.最後に, 提案手法をベンチマーク回路に適用した実験結果を示し, 提案法の有効性について議論する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 2005-02-11
著者
-
山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
-
高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学工学部情報工学科
-
高橋 寛
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学工学部情報工学科
-
高松 雄三
愛媛大学
-
山崎 浩二
明治大学
-
栗山 和樹
愛媛大学大学院理工学研究科
-
西山 隆広
愛媛大学大学院理工学研究科
-
樋上 喜信
愛媛大学大学院
-
高松 雄三
愛媛大学工学部
-
Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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