順序回路に対するテスト系列中のドントケア値発見とテスト圧縮・消費電力削減への応用について

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概要

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• 2005-01-21

著者

• 小林 真也

  愛媛大学工学部

• 小林 真也

  愛媛大学 工学部

• 小林 真也

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 樋上 喜信

  愛媛大学工学部情報工学科

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部情報工学科

• 梶原 誠司

  九州工業大学情報工学部電子情報工学科

• 高松 雄三

  愛媛大学

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• 梶原 誠司

  九州工業大学:jst Crest

• 高松 雄三

  愛媛大学工学部

• 梶原 誠司

  九州工業大学

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