完全故障検出効率を保証するデータパスの非スキャンテスト容易化設計法 (テストと設計検証論文特集)
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概要
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本論文では, レジスタ転送レベルデータパスを対象とした完全故障検出効率を保証するテスト容易化設計法, 及び, 対応するテストプラン生成法を提案する. 提案するテスト容易化設計法は, 階層テスト生成法に基づいており, 組合せ回路用テスト生成ツールによるテスト生成を可能としている. 組合せ回路用テスト生成を利用する従来法の完全スキャン設計法に比べ, 提案手法は, ハードウェアオーバヘッドが小さく, テスト生成時間, テスト実行時間が短い. 提案するテスト容易化設計法の時間計算量はO(n)(nはデータパス中の回路要素数)であり, テストプラン生成法は各回路要素のテストプランをO(n^2)時間で生成する.
- 社団法人電子情報通信学会の論文
- 1999-07-25
著者
-
藤原 秀雄
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
増澤 利光
奈良先端科学技術大学院大学情報科学研究科
-
和田 弘樹
株式会社日立製作所中央研究所システムlsi研究部
-
和田 弘樹
奈良先端科学技術大学院大学 情報科学研究科
-
サルージャ ケーワルk.
Department Of Electrical And Computer Engineering University Of Wisconsin - Madison
-
Saluja Kewal
ウィスコンシン大学
-
Saluja Kewal
ウィスコンシン大学マディソン校
-
Saluja Kewal
Univ. Of Wisconsin-madison Dept. Of Electrical And Computer Engineering
-
Saluja Kewal
ウイスコンシン大学
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