スキャンパス攻撃を考慮した暗号LSIのテスタビリティ評価(フォールトセキュア・セキュリティ・2線2相回路のテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
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概要
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セキュリティ対策,著作権保護の観点などから,現在様々なデジタル製品には暗号LSIが搭載されている.暗号LSIを含む現在のほとんどのLSIには,テストのためにスキャンパスが挿入されている.しかしながら,スキャンパスを用いることにより暗号LSI上で扱われる秘密情報を特定される危険性がある.本稿では,スキャンパスの構成を変えることによるテスタビリティとセキュリティのトレードオフの関係を明らかにする.このために,DESを実装した暗号LSIに部分的にスキャンパスを挿入し,テスタビリティとセキュリティの評価を行う.さらに,テスタビリティとセキュリティのトレードオフの関係を考慮した防御法を提案し,提案した防御法の評価を行う.提案した防御法では,スキャンパス攻撃を防ぎつつ,約98%の高い故障検出効率を得ることができる.
- 2008-02-01
著者
-
安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
-
吉村 正義
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
伊藤 侑磨
九州大学大学院システム情報科学府情報工学専攻
-
Yasuura Hiroto
The Graduate School Of Engineering Sciences Kyushu University
-
Yasuura Hiroto
Department Of Computer Science And Communication Engineering Graduate School Of Information Science
-
Yasuura Hiroto
Kyushu Univ. Fukuoka‐shi Jpn
-
伊藤 侑磨
九州大学工学部電気情報工学科
-
安浦 寛人
九州大学大学院 システム情報科学研究院
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