LSIテスタを用いたLSIの信号遅延の測定
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概要
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高性能かつ低コストのLSIを設計するためには, 性能の見積り誤差とチップ間の個体差を理解し, その上でマージンを小さく取りながら十分な歩留まりを確保できる設計を行うことが必要である。今後LSIの微細化が進み, 高速化が進むに従い, プロセスのゆらぎなどの影響が更に大きくなり, 設計段階でも十分にその影響を考慮しなければならなくなる。しかしながら実現された回路の特性のばらつきなどの詳細な情報は企業の外に出ることは少ない。今後, より良い設計手法の研究にはこのような情報が欠かせないものとなってくる。本稿では, 実際にLSIチップに対して遅延に関する測定を行い, シミュレーショシ上で予測した性能と実チップの性能の誤差, 並びに, 実チップの性能の個体差を示す。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1997-09-24
著者
-
安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究院
-
安浦 寛人
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
-
松永 英人
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
-
澤田 直
九州大学大学院システム情報科学研究科情報工学専攻
-
澤田 直
九州大学大学院システム情報科学研究院情報工学部門
-
安浦 寛人
九州大学大学院 システム情報科学研究院
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