電力を再構成可能なFlex Power FPGAの低消費電力プロセスによる試作と評価(デザインガイア2010 : VLSI設計の新しい大地)
スポンサーリンク
概要
- 論文の詳細を見る
電力を再構成可能なFPGAであるFlex Power FPGAは,スタティック電力の削減を目的としている.Flex Power FPGAにおいて,スタティック電力の起源であるオフ電流の削減効果は,MOSFETにボディバイアスを印加した際のオフ電流の変化幅と回路内の低しきい値MOSFETの割合の両方に依存する.近年,様々なアプリケーションにおける動作速度の高速化や消費電力の低減といった動作スペックに対する厳しい要求を満足するために,ある一つのテクノロジーノードの中で複数のプロセスが用意されている.更に,それぞれのプロセスにおいて特性の異なる複数の種類のMOSFETがあり,これらを選択的に用いて集積回路の設計が可能である.そして,これらのMOSFETのボディバイアス時のオフ電流の変化の振る舞いはそれぞれで異なる.今回は,オフ電流の変化幅の大きい低電カプロセスのMOSFETを用いてFlex Power FPGAを試作し,オフ電流削減効果を評価した.
- 2010-11-23
著者
-
中川 格
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
-
堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
-
堤 利幸
明治大学
-
関川 敏弘
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
-
河並 崇
金沢工業大学情報工学科
-
河並 崇
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
-
日置 雅和
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
-
日置 雅和
産業技術総合研究所
-
松本 洋平
東京海洋大学
-
小池 帆平
産業技術総合研究所
-
小池 汎平
産業技術総合研究所
-
中川 格
産業技術総合研究所
-
関川 敏弘
産業技術総合研究所
-
河並 崇
金沢工業大学情報学部情報工学系
-
日置 雅和
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
-
日置 雅和
産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティックスグループ
-
河並 崇
金沢工業大学
-
小池 汎平
産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティックスグループ
関連論文
- 電力を再構成可能なFlex Power FPGAチップの設計と評価(デバイスアーキテクチャ1)
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について (ディペンダブルコンピューティング)
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 電力を再構成可能なFlex Power FPGAの低消費電力プロセスによる試作と評価 (リコンフィギャラブルシステム)
- N-025 パイプラインプロセッサ設計教育システムMEIMES-DESIGNの初期開発(N分野:教育・人文科学)
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 命令の先行発火により逐次処理を高速化したデータフローマシン
- CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法
- 5-108 情報系学部2年次のエンジニアリングデザイン教育におけるグループウェアの活用事例((12)エンジニアリングデザイン,口頭発表論文)
- 大容量FPGAの応用によるマルチプロセッサエミュレーションシステムの評価
- 半導体デバイスの信頼性基礎講座(7) : スケーリングと信頼性(信頼性基礎講座)
- 最新SOIデバイス技術と信頼性(先端LSI技術と信頼性)
- 複数の回路構成情報を用いたチップ内ばらつきを有するFPGAの歩留まり向上手法の提案(設計手法,リコンフィギャラブルシステム,一般)
- Flex Power FPGAの回路レベルからチップレベルまでの一貫したシミュレーション評価(デバイスアーキテクチャ,リコンフィギャラブルシステム論文)
- Flex Power FPGAにおける最適ボディバイアス電圧値組み合わせの詳細な分析(リコンフィギャラブルシステム,一般)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について(FPGAとその応用及び一般)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について(FPGAとその応用及び一般)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について(FPGAとその応用及び一般)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について(FPGAとその応用及び一般)
- Flex Power FPGA におけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について
- Flex Power FPGA におけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について
- Flex Power FPGA におけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について
- Flex Power FPGA におけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について
- Flex Power FPGAにおけるしきい値電圧最適化アルゴリズムの検討(デバイスアーキテクチャII)
- Flex Power FPGAのしきい値電圧制御粒度の評価(デバイスアーキテクチャII)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値電圧制御のための面積オーバヘッド評価(デバイスアーキテクチャI, リコンフィギャラブルシステム, 一般)
- Flex Power FPGAの動作スピードと消費電力の解析 : 回路レベルからチップレベルまで(デバイスアーキテクチャI, リコンフィギャラブルシステム, 一般)
- 電力を再構成可能なFlex Power FPGAの低消費電力プロセスによる試作と評価(デザインガイア2010 : VLSI設計の新しい大地)
- コンパクトモデルを用いた金属ゲートFinFETのばらつき解析(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- フレックス・パスゲートSRAMによる雑音余裕向上
- Flex Power FPGA : デバイス、回路、アーキテクチャ、ソフトウェアにまたがる垂直統合型研究のささやかな試み(FPGA応用及び一般)
- CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法
- Flex Power FPGA : デバイス、回路、アーキテクチャ、ソフトウェアにまたがる垂直統合型研究のささやかな試み(FPGA応用及び一般)
- Flex Power FPGA : デバイス、回路、アーキテクチャ、ソフトウェアにまたがる垂直統合型研究のささやかな試み(FPGA応用及び一般)
- Flex Power FPGA : デバイス、回路、アーキテクチャ、ソフトウェアにまたがる垂直統合型研究のささやかな試み(FPGA応用及び一般)
- 動的閾値パスゲートを用いた0.5V FinFET SRAM(SRAM,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
- FinFET高周波特性の高精度評価に関する研究(機能ナノデバイス及び関連技術)
- FinFET高周波特性の高精度評価に関する研究(機能ナノデバイス及び関連技術)
- CMOSデバイスのばらつき(CMOS技術の限界,課題,新しい展開)
- ホモジニアス・タイル構造3次元FPGAの性能評価(3D-I,集積回路とアーキテクチャの協創〜3次元集積回路技術とアーキテクチャ〜)
- C-12-3 閾値可変型FinFETを用いた0.7V動作演算増幅器の試作(アナログ要素回路,C-12.集積回路,一般セッション)
- 航海画像における色情報を用いた海表面の識別
- TSVを用いた3次元FPGAの性能評価(プロセス科学と新プロセス技術)
- しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGA用デモシステムの開発 (リコンフィギャラブルシステム)
- CT-3-2 Flex Power FPGA : しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGAの開発(CT-3.超低消費電力LSIにより広がる新しい応用,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
- Flex Power FPGAの開発 : しきい値電圧を細粒度でプログラム可能な低消費電力FPGA(イメージセンサ,カメラ信号処理,画像評価関連技術,及び2012コンピュータエレメントワークショップ関連報告)
- 逆合成法を用いた航海画像の安定化
- しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGA用デモシステムの開発(デバイスアーキテクチャと性能評価技術)
- CT-2-5 低電圧SRAMデバイス技術(CT-2.サブ0.5V時代に向けた低電圧・低電力メモリ技術,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
- シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証)
- Independent-Double-Gate-FinFETの1/fノイズ特性に関する研究(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)
- Flex Power FPGA の開発しきい値電圧を細粒度でプログラム可能な低消費電力FPGA
- しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGA用デモシステムの開発
- シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み