複数の回路構成情報を用いたチップ内ばらつきを有するFPGAの歩留まり向上手法の提案(設計手法,リコンフィギャラブルシステム,一般)
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概要
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半導体プロセスの微細化に伴いトランジスタのしきい値電圧などのデバイス特性のチップ内におけるばらつきが顕在化しLSIの性能歩留りが低下する問題がある.このようなチップ内ばらつきを回避する手法として,FPGAにおいては,あらかじめチップごとにばらつきを測定しておき,ばらつきを考慮して回路設計を行うことで性能歩留まりを向上する手法が提案されている.一方で,このような手法は,FPGAのテストコストや自動設計ツールの実行時間の増加を招くため多くの場合において現実的ではない。本稿では,相互のクリティカルパスがFPGA上の同じ回路リソースを利用しないように複数の回路構成情報を作成し、チップごとに最適なものを選定して用いることで性能歩留まりを向上する手法を提案する.
- 2006-09-07
著者
-
中川 格
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
-
堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
-
関川 敏弘
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
-
河並 崇
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
-
日置 雅和
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
-
松本 洋平
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
-
堤 利幸
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
-
日置 雅和
産業技術総合研究所
-
松本 洋平
東京海洋大学
-
小池 帆平
産業技術総合研究所
-
小池 汎平
産業技術総合研究所
-
中川 格
産業技術総合研究所
-
関川 敏弘
産業技術総合研究所
-
河並 崇
金沢工業大学情報学部情報工学系
-
日置 雅和
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
-
日置 雅和
産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティックスグループ
-
河並 崇
金沢工業大学
-
小池 汎平
産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティックスグループ
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