堤 利幸 | 明治大学大学院理工学研究科
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概要
関連著者
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堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
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中川 格
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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河並 崇
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
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日置 雅和
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
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日置 雅和
産業技術総合研究所
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小池 汎平
産業技術総合研究所
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関川 敏弘
産業技術総合研究所
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日置 雅和
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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日置 雅和
産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティックスグループ
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河並 崇
金沢工業大学
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関川 敏弘
産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門
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中川 格
産業技術総合研究所
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小池 汎平
産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティックスグループ
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河並 崇
金沢工業大学情報学部情報工学系
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小池 汎平
産業技術総合研究所情報処理研究部門
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堤 利幸
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
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松本 洋平
東京海洋大学
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堤 利幸
明治大学
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松本 洋平
産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ
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樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
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高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
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高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
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四柳 浩之
徳島大学大学院
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橋爪 正樹
徳島大学大学院
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山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
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高松 雄三
愛媛大学
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山崎 浩二
明治大学
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高橋 寛
愛媛大学大学院
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樋上 喜信
愛媛大学大学院
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橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
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Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
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高橋 寛
山形大 工
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四柳 浩之
徳島大学
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山崎 浩二
明治大学理工学部情報科学科
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刈谷 泰由紀
明治大学大学院理工学研究科
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首藤 祐太
愛媛大学大学院
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高棟 佑司
愛媛大学大学院
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渡部 哲也
愛媛大学大学院
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河並 崇
金沢工業大学情報工学科
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小池 帆平
産業技術総合研究所
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
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堤 利幸
明治大学理工学部情報科学科
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堤 利幸
明治大学理工学部
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堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科基礎理工学専攻情報科学系
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森本 智之
明治大学大学院理工学研究科基礎理工学専攻情報科学系
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相京 隆
半導体理工学研究センター(STARC)
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相京 隆
愛媛大学大学院理工学研究科
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門山 周平
愛媛大学大学院
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日置 雅和
独立行政法人産業技術総合研究所
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松本 洋平
独立行政法人産業技術総合研究所
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中川 格
独立行政法人産業技術総合研究所
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関川 敏弘
独立行政法人産業技術総合研究所
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小池 帆平
独立行政法人産業技術総合研究所
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相京 隆
愛媛大学大学院 理工学研究科
著作論文
- 電力を再構成可能なFlex Power FPGAチップの設計と評価(デバイスアーキテクチャ1)
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について (ディペンダブルコンピューティング)
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- N-025 パイプラインプロセッサ設計教育システムMEIMES-DESIGNの初期開発(N分野:教育・人文科学)
- 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 半導体デバイスの信頼性基礎講座(7) : スケーリングと信頼性(信頼性基礎講座)
- 最新SOIデバイス技術と信頼性(先端LSI技術と信頼性)
- 複数の回路構成情報を用いたチップ内ばらつきを有するFPGAの歩留まり向上手法の提案(設計手法,リコンフィギャラブルシステム,一般)
- Flex Power FPGAの回路レベルからチップレベルまでの一貫したシミュレーション評価(デバイスアーキテクチャ,リコンフィギャラブルシステム論文)
- Flex Power FPGAにおける最適ボディバイアス電圧値組み合わせの詳細な分析(リコンフィギャラブルシステム,一般)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について(FPGAとその応用及び一般)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について(FPGAとその応用及び一般)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について(FPGAとその応用及び一般)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について(FPGAとその応用及び一般)
- Flex Power FPGA におけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について
- Flex Power FPGA におけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について
- Flex Power FPGA におけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について
- Flex Power FPGA におけるしきい値制御用バイアス電圧値組合せの最適化について
- Flex Power FPGAにおけるしきい値電圧最適化アルゴリズムの検討(デバイスアーキテクチャII)
- Flex Power FPGAのしきい値電圧制御粒度の評価(デバイスアーキテクチャII)
- Flex Power FPGAにおけるしきい値電圧制御のための面積オーバヘッド評価(デバイスアーキテクチャI, リコンフィギャラブルシステム, 一般)
- Flex Power FPGAの動作スピードと消費電力の解析 : 回路レベルからチップレベルまで(デバイスアーキテクチャI, リコンフィギャラブルシステム, 一般)
- 電力を再構成可能なFlex Power FPGAの低消費電力プロセスによる試作と評価(デザインガイア2010 : VLSI設計の新しい大地)
- CT-3-2 Flex Power FPGA : しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGAの開発(CT-3.超低消費電力LSIにより広がる新しい応用,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
- しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGA用デモシステムの開発(デバイスアーキテクチャと性能評価技術)