橋爪 正樹 | 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
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概要
関連著者
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橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
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橋爪 正樹
徳島大学大学院
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四柳 浩之
徳島大学大学院
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
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四柳 浩之
徳島大学
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山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
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樋上 喜信
愛媛大学大学院理工学研究科
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高橋 寛
愛媛大学大学院理工学研究科
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堤 利幸
明治大学
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高松 雄三
愛媛大学
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山崎 浩二
明治大学
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為貞 建臣
徳島大学
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高橋 寛
愛媛大学大学院
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樋上 喜信
愛媛大学大学院
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為貞 建臣
徳島大学工学部
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Takahashi Hiroshi
The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University
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高松 雄三
愛媛大学大学院理工学研究科
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橋爪 正樹
徳島大学
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高橋 寛
山形大 工
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高松 雄三
愛媛大学大学院 理工学研究科
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堤 利幸
明治大学大学院理工学研究科
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima
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Yotsuyanagi Hiroyuki
Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima
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四柳 浩之
徳島大学工学部電気電子工学科
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刈谷 泰由紀
明治大学大学院理工学研究科
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藤本 佳照
徳島大学大学工学部
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為貞 建臣
徳島大学大学工学部
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山崎 浩二
明治大学理工学部情報科学科
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相京 隆
半導体理工学研究センター(STARC)
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堤 利幸
明治大学理工学部情報科学科
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堤 利幸
明治大学理工学部
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秦 豊
徳島大学
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三浦 幸也
首都大学東京
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一宮 正博
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
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高木 正夫
詫間電波工業高等専門学校電子工学科
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渡部 哲也
愛媛大学大学院
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相京 隆
愛媛大学大学院理工学研究科
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相京 隆
愛媛大学大学院 理工学研究科
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飯田 仁
徳島大学大学院ヘルスバイオサイエンス研究部
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首藤 祐太
愛媛大学大学院
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高棟 佑司
愛媛大学大学院
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樽見 洋
徳島大学大学院先端技術科学教育部
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栗林 遼太
徳島大学大学院先端技術科学教育部
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小野 安季良
詫間電波工業高等専門学校情報通信工学科
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門山 周平
愛媛大学大学院
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池 浩司
徳島大学
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清水 達也
徳島大学
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江崎 大輔
徳島大学
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西本 誠一
徳島大学
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月本 功
詫間電波工業高等専門学校電子工学科
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相京 隆
半導体理工学研究セ
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田坂 英司
三浦工業
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飯田 仁
徳島大学大学院ヘルスバイオサイエンス研究部 薬学系
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茅原 敏広
三浦工業株式会社
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茅原 敏広
三浦工業(株)
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山添 知久
徳島大学
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月本 功
徳島大学
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茅原 敏広
三浦工業
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門
著作論文
- 交流電界印加時の電流テストによるCMOS LSIのリード浮き検出のための印加交流電圧
- 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 学生証による出席管理のためのICカードリーダーの試作
- 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
- D-10-12 抵抗ラダー型DACの電流テスト容易化設計(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-13 多重縮退故障に対応するビアオープンとそのテスト生成についての一考察(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- D-10-14 隣接線への論理値割当を行う断線故障検査用テスト生成(D-10. ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- CMOSゲート回路を断線センサとして用いた部品接合不良検出法
- 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
- TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
- オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
- 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
- 多層配線LSI の断線故障検査に関する研究
- D-10-8 スキャンツリー内のフリップフロップの配線法について(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般講演)
- C-12-12 時変電源電圧駆動ダイナミックCMOS時計回路の消費電力評価(C-12.集積回路B(ディジタル),エレクトロニクス2)
- C-12-3 電源電流によるZ80ピン間ブリッジ故障の実時間テスト(C-12.集積回路A(設計・テスト・実装技術),エレクトロニクス2)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- 徳島大学工学部電気電子工学科為貞研究室(研究室訪問)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- D-10-7 抵抗ラダー型DAC内MOS短絡の電流テスト容易化設計(D-10.ディペンダブルコンピューティング,一般セッション)
- 処理フローに基づくシーケンス制御用マイコンの機能検査法
- TTL組合せ論理回路の電流計測テストのための検査入力生成