藤本 佳照 | 徳島大学大学工学部
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概要
関連著者
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四柳 浩之
徳島大学大学院
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橋爪 正樹
徳島大学大学院
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為貞 建臣
徳島大学
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藤本 佳照
徳島大学大学工学部
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為貞 建臣
徳島大学大学工学部
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橋爪 正樹
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門
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為貞 建臣
徳島大学工学部
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四柳 浩之
徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部
著作論文
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)
- レイアウト情報を用いた故障候補エリアの抽出(テスト設計)(VLSIの設計/検証/テスト及び一般)(デザインガイア2004-VLSI設計の新しい大地を考える研究会-)