堤 利幸 | 明治大学

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概要

• 同名の論文著者
• 明治大学の論文著者

関連著者

• 堤 利幸

  明治大学

• 堤 利幸

  明治大学大学院理工学研究科

• 山崎 浩二

  明治大学

• 山崎 浩二

  明治大学情報コミュニケーション学部

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部

• 樋上 喜信

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高橋 寛

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 高松 雄三

  愛媛大学

• 橋爪 正樹

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部 情報ソリューション部門

• 高橋 寛

  山形大 工

• Takahashi Hiroshi

  The Authors Are With The Faculty Of Engineering Ehime University

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 四柳 浩之

  徳島大学

• 高松 雄三

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 山崎 浩二

  明治大学理工学部情報科学科

• 堤 利幸

  明治大学理工学部情報科学科

• 堤 利幸

  明治大学理工学部

• 刈谷 泰由紀

  明治大学大学院理工学研究科

• 日置 雅和

  産業技術総合研究所

• 松本 洋平

  東京海洋大学

• 小池 汎平

  産業技術総合研究所

• 中川 格

  産業技術総合研究所

• 関川 敏弘

  産業技術総合研究所

• Yotsuyanagi Hiroyuki

  Faculty Of Engineering The Univ. Of Tokushima

• Yotsuyanagi Hiroyuki

  Dept. Of Information Solution Institute Of Technology And Science University Of Tokushima

• 河並 崇

  金沢工業大学

• 中川 格

  産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門

• 相京 隆

  半導体理工学研究センター(STARC)

• 河並 崇

  産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ

• 日置 雅和

  産業技術総合研究所 エレクトロニクス研究部門 エレクトロインフォマティクスグループ

• 日置 雅和

  産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門

• 日置 雅和

  産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティックスグループ

• 関川 敏弘

  産業技術総合研究所エレクトロニクス研究部門

• 渡部 哲也

  愛媛大学大学院

• 相京 隆

  愛媛大学大学院理工学研究科

• 落合 渉

  明治大学大学院理工学研究科

• 冨澤 一隆

  明治大学大学院理工学研究科

• 小池 汎平

  産業技術総合研究所ナノエレクトロニクス研究部門エレクトロインフォマティックスグループ

• 相京 隆

  愛媛大学大学院 理工学研究科

• 首藤 祐太

  愛媛大学大学院

• 高棟 佑司

  愛媛大学大学院

• 門山 周平

  愛媛大学大学院

• 河並 崇

  金沢工業大学情報工学科

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 小池 帆平

  産業技術総合研究所

• 河並 崇

  金沢工業大学情報学部情報工学系

• 四柳 浩之

  徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部情報ソリューション部門

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著作論文

• 抵抗性オープン故障のモデル化とそのテスト生成について(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
• TEGチップのデジタル測定によるオープン故障のモデル化の検討(故障モデル・故障許容・故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• 故障励起関数を利用したオープン故障の診断法(ディペンダブルコンピューティング)
• 隣接信号線を考慮したオープン故障のテストパターンについて(欠陥ベーステスト,VLSI設計とテスト及び一般)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地)
• TEGチップを用いたオープン故障の解析(テスト生成,デザインガイア2008-VLSI設計の新しい大地-)
• オープン故障診断の性能向上について(設計/テスト/検証)
• 隣接信号線を考慮した動的なオープン故障に対する故障診断法(故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法
• 半導体デバイスの信頼性基礎講座(7) : スケーリングと信頼性(信頼性基礎講座)
• 最新SOIデバイス技術と信頼性(先端LSI技術と信頼性)
• 電力を再構成可能なFlex Power FPGAの低消費電力プロセスによる試作と評価(デザインガイア2010 : VLSI設計の新しい大地)
• CPLDのPLAブロックにおけるクロスポイント故障および縮退故障の診断法
• CMOSデバイスのばらつき(CMOS技術の限界,課題,新しい展開)
• CT-3-2 Flex Power FPGA : しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGAの開発(CT-3.超低消費電力LSIにより広がる新しい応用,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
• しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGA用デモシステムの開発(デバイスアーキテクチャと性能評価技術)
• シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み(設計/テスト/検証)
• しきい値電圧をプログラム可能な超低消費電力FPGA用デモシステムの開発
• シグナルインティグリティ不良に対する実証的研究の試み

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