小河 宏志 | 日本大学大学院生産工学研究科
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概要
関連著者
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山崎 浩二
明治大学情報コミュニケーション学部
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吉村 正義
九州大学大学院システム情報科学研究院
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小河 宏志
日本大学大学院生産工学研究科
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山崎 浩二
明治大学
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細川 利典
日本大学生産工学部
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大森 悠翔
富士通マイクロエレクトロニクス
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細川 利典
日本大学大学院生産工学研究科
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大森 悠翔
日本大学大学院生産工学研究科
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小河 宏志
日本大学生産工学部
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山崎 浩二
明治大学清報コミュニケーション学部
著作論文
- マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法(システムレベル設計,システム設計及び一般)
- スキャンテストにおけるテスト不可能故障の検出を削減するためのテスト生成法(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般)
- マルチサイクルキャプチャテストを用いたフルスキャン設計回路の縮退故障テスト生成(スキャンテスト,VLSI設計とテスト及び一般)