柏崎 智史 | 日本大学大学院生産工学研究科
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概要
関連著者
著作論文
- 製造ばらつきを考慮したフィールドテストのためのクリティカルパス解析(フィールドテスト・製造ばらつき,VLSI設計とテスト及び一般)
- VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択結果における一考察(設計/テスト/検証)
- VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察(テスト設計2,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-)
- VLSIの製造バラつきと経年劣化を考慮したアダプティブフィールドテストにおけるパス選択法に関する考察
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