LSI故障診断システム
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概要
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近年、集積回路の微細化技術の進歩による論理回路の複雑化/大規模化に伴い、論理回路の試験コストが増大している。この試験コスト増大に対処するため、その回路にスキャン設計などのテスト容易化設計(1)を行うのが一般的である。しかしそのような回路についてでも故障シミュレーション/故障辞書作成には多大な計算機資源を必要とし故障診断を困難なものとしている。そこで我々が開発したLSI故障診断システムは、シリアルスキャン設計された論理回路を対象とした故障辞書を作成しないファンクション試験の故障診断システムである。
- 一般社団法人情報処理学会の論文
- 1989-10-16
著者
-
山本 剛
富士通
-
相京 隆
半導体理工学研究セ
-
相京 隆
株式会社半導体理工学研究センター
-
町田 泰秀
(株)富士通
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山本 剛
(株)富士通
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西風 浩二
(株)富士通
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相京 隆
(株)富士通
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町田 泰秀
富士通
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