マスクパタンからの論理回路図復元方法の検討

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概要

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LSIマスクパタン設計の誤りを検出するため,計算機によるマスクパタン論理検証システムの開発を進めている。誤りを検出する方法としては,マスクパタンから論理ゲートレベルの回路を抽出し,これをもとの設計論理回路と比較照合したり,回路図を復元したりすることにより行なっている。このうち,復元された回路図により検証を行なうためには,その回路図が設計者の意図した通りに復元されていることが必要である。しかし,回路図には一般的でない特殊な回路や,設計者の好みの問題も入ってくるため,従来のようにある一定の規則に従って回路図を作成するだけでは,満足な回路図を得ることはできなかった。そこで我々は,まず一般的に用いられている描画規則により回路図を復元した後,対話形式により設計者が自由に修正できることを特徴とする回路図の復元方法について開発を行なった。
一般社団法人情報処理学会の論文
1986-10-01

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