小西 秀明 | 富士通(株)

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概要

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• 富士通(株)の論文著者

関連著者

• 相京 隆

  半導体理工学研究セ

• 相京 隆

  株式会社半導体理工学研究センター

• 平出 貴久

  (株)富士通研究所

• 小西 秀明

  富士通(株)

• 江守 道明

  富士通(株)

• 福本 聡

  首都大学東京システムデザイン学部

• 新井 雅之

  首都大学東京システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• 松尾 達

  (株)富士通研究所

• 相京 隆

  富士通(株)

• 新井 雅之

  首都大学東京 システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京 システムデザイン学部

• 相京 隆

  富士通株式会社 電子デバイス事業本部 Cad開発統括部

• 江守 道明

  富士通株式会社

• 小西 秀明

  富士通株式会社

• 岡埜 靖

  富士通株式会社

• 山村 一之

  富士通株式会社

• 唐沢 直子

  富士通株式会社

• 板矢 剛一

  富士通株式会社

• 熊谷 淳子

  富士通株式会社

• 平出 貴久

  富士通研究所

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著作論文

• スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術,テスト技術,一般)
• スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
• スキャンベースBISTにおけるテストデータ100倍圧縮に関する検討
• ATGおよびBIST技術を応用したテストコスト削減の新手法

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