相京 隆 | 富士通株式会社 電子デバイス事業本部 Cad開発統括部

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概要

• 同名の論文著者
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関連著者

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  富士通株式会社 電子デバイス事業本部 Cad開発統括部

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  株式会社半導体理工学研究センター

• 平出 貴久

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• 江守 道明

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• 唐沢 直子

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• 熊谷 淳子

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著作論文

• SC-9-3 テスト容易化設計技術の現状と課題
• BAST : BIST Aided Scan Test : テストコスト削減のための新しい手法(テスト圧縮, LSIのテスト・診断技術論文)
• ATGおよびBIST技術を応用したテストコスト削減の新手法

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