黒川 晴申 | 首都大学東京大学院システムデザイン研究科

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概要

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関連著者

• 新井 雅之

  首都大学東京システムデザイン学部

• 黒川 晴申

  首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• 福本 聡

  首都大学東京システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京システムデザイン学部:首都大学東京大学院システムデザイン研究科

• 新井 雅之

  首都大学東京 システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  首都大学東京 システムデザイン学部

• 福本 聡

  首都大学東京 システムデザイン学部

• 岩崎 一彦

  東京都立大学大学院工学研究科

• 新井 雅之

  東京都立大学大学院工学研究科

• 福本 聡

  東京都立大学大学院工学研究科

• 市野 憲一

  東京都立大学

• 市野 憲一

  東京都立大学大学院工学研究科

• 黒川 晴申

  東京都立大学大学院工学研究科

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著作論文

• ロジックBISTの疑似ランダムパターン品質の評価モデル(DC-2テスト,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
• ロジックBISTの疑似ランダムパターン品質の評価モデル(DC-2テスト,インターネット環境でのデータ工学とディペンダビリティ,及び一般)
• C_017 VLSIのランダムパターンテストにおける残存故障数分布について(C分野:ハードウェア)
• LFSRを用いたロジックBISTの故障検出率に関する統計的一考察(BISTと故障診断,VLSI設計とテスト及び一般)
• スキャンBISTに対する初期値とフェーズシフタの選択手法(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
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