大塚 信行 | イノテック株式会社
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概要
関連著者
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新井 雅之
東京都立大学大学院工学研究科
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福本 聡
東京都立大学大学院工学研究科
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大塚 信行
イノテック株式会社
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佐藤 正幸
東京都立大学大学院工学研究科:ジェネシス・テクノロジー株式会社
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佐藤 正幸
エイシンシステム(株)
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新井 雅之
首都大学東京システムデザイン学部
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岩崎 一彦
東京都立大学大学院工学研究科
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佐藤 正幸
イノテック株式会社
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志水 勲
(株)ルネサステクノロジ
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武藤 治
イノテック株式会社
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上原 孝二
(株)ルネサステクノロジ
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間明田 治佳
(株)ルネサステクノロジ
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板橋 裕行
イノテック株式会社
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小林 康郎
イノテック株式会社
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山形 優輝
東京都立大学大学院工学研究科電気工学専攻
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市野 憲一
東京都立大学
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板橋 浩行
イノテック株式会社
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村井 崇
イノテック株式会社
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武藤 治
東京都立大学大学院工学研究科
-
岩崎 一彦
株式会社ルネサステクノロジ
-
上原 孝二
株式会社ルネサステクノロジ
-
志水 勲
株式会社ルネサステクノロジ
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間明田 治佳
株式会社ルネサステクノロジ
-
市野 憲一
東京都立大学大学院工学研究科
著作論文
- D-10-7 SRAM を用いた可変論理セルで構成したメモリテスタの実装
- 低消費電力基板型再構成テスタの開発(テスタ開発, LSIのテスト・診断技術論文)
- 低消費電力基板型構造可変テスタの開発(VLSI設計とテスト)